原位多場(chǎng)耦合樣品桿

【產(chǎn)品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位多場(chǎng)耦合樣品桿，結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù)，通過(guò)更換不同類(lèi)型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)光、電、力、熱多種原位功能。

產(chǎn)品型號(hào)：MST
更新時(shí)間：2024-12-10
訪問(wèn) 量：5286
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品詳情

    PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位多場(chǎng)耦合樣品桿是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，借助該系統(tǒng)，研究人員可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境（包括光、電、力、熱等），從而對(duì)材料或者器件等不同類(lèi)型樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵(lì)下的原位表征。

    具備多種耦合方式：力-熱、力-電、光-電、光-電-力、光-電-力-熱

    技術(shù)指標(biāo)

電學(xué)測(cè)量	加熱控溫
1.包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元；	1.溫度范圍：室溫至1000℃；
2.電流測(cè)量范圍：1nA-30mA；	2.溫度準(zhǔn)確度：優(yōu)于5%；
3.電流分辨率：100fA；	3.控溫穩(wěn)定性：優(yōu)于±0.1℃；
4.電壓輸出范圍：±10V，±150V；	4..軟件控制，數(shù)據(jù)自動(dòng)保存。
5.軟件自動(dòng)測(cè)量：I-V、I-t

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透射電子顯微鏡內(nèi)不同溫度下的原位充放電研究

In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperatures

doi: 10.1002/smll.202001899

力學(xué)操縱	光纖指標(biāo)
1.探針粗細(xì)調(diào)方式：全軟件操控；	1.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選；
2.粗調(diào)范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；	2.光纖快拆接口：SMA、FC等；
3.細(xì)調(diào)范圍：XY方向18um，Z方向1.5um；	3.可外接光源；
4.4.細(xì)調(diào)分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；	4.可外接光譜儀；

    產(chǎn)品選型

    原位多場(chǎng)耦合樣品桿具有單傾、雙傾（JEOL）兩個(gè)版本；

    澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號(hào)透射電子顯微鏡及極靴的不同型號(hào)樣品桿，支持定制。

    國(guó)內(nèi)部分用戶

北京理工大學(xué).jpg 青海大學(xué).jpg 廈門(mén)大學(xué).jpg 上海交通大學(xué).png 燕山大學(xué).jpg 浙江大學(xué).png

    典型案例

    1、加熱芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位加熱電學(xué)實(shí)驗(yàn)；

    2、加熱芯片+力學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位高溫力學(xué)實(shí)驗(yàn)；

    3、電學(xué)芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的三端器件測(cè)量實(shí)驗(yàn)；

    4、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的電制發(fā)光現(xiàn)象研究；

    5、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的原位光電現(xiàn)象研究。

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