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【產(chǎn)品概述】澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展,已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢,覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù),例如真空分隔技術(shù),通過電子槍與樣品倉的真空分離設(shè)計(jì),顯著縮短換樣時(shí)間,同時(shí)支持高真空與低真空模式。
產(chǎn)品詳情
ZEM Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡
產(chǎn)品介紹
ZEM20pro臺式掃描電鏡采用單晶燈絲,最高放大36萬倍,分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺,滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測需求。
產(chǎn)品特色
▲ 兼容擴(kuò)展性強(qiáng)
▲ 高性價(jià)比
▲ 多級防震
▲ 多種成像模式
▲ 高分辨觀察
▲ 易用性強(qiáng)
產(chǎn)品參數(shù)
電子槍:單晶燈絲
探測器:二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀(選配)
樣品臺:兩軸:X:60mm Y:55mm 三軸、五軸可選
樣品容納大小:XY可自由移動(dòng):105*87*51.5mm靜止:165*122*51.5mm
XY可自由移動(dòng):75*72.8*26.6mm靜止:165*122*26.6mm
減速模式:選配(0-10kv樣品臺電壓減速)
應(yīng)用案例
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